TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導電材料的電阻率測量。是目前科研和生產的重要材料測量設備。

HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設備，可以出具CNAS整體認證的專業(yè)材料高溫測量設備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實現(xiàn)了是以往產品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，

HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsA

GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設計原理測量，并參考美國A.S.T.M 標準,采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。高低溫介電溫譜測量系統(tǒng)(-190℃-1000℃）電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全。

四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。

TDNX-1200型金屬高溫電阻測量儀是一款專門針對于任意大小形狀及尺寸的金屬材料電阻測試高溫系統(tǒng)，常見的不銹鋼、鍍鋅鋼、銅合金、鎳合金等金屬材料均可測試。設備采用高精度的儀表，電阻精度量精確到 1uΩ，配備高精度標準電阻，數(shù)據(jù)溯源美國國家標準與技術研究院數(shù)據(jù)。是目前研究金屬材料高溫電阻變化的重要設備。 一、主要功能：