JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺(tái)是我司自主研發(fā)的一款在環(huán)境下給樣品加載電學(xué)信號(hào)的設(shè)備。可以實(shí)現(xiàn) 器件及材料表征的IV/CV特性測(cè)試，射頻測(cè)試，光電測(cè)試等。通過液氮或者壓縮機(jī)制冷，可以在防輻射屏內(nèi)營(yíng)造一個(gè)穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境。在特殊材料，半導(dǎo)體器件等研究方向具有廣泛運(yùn)用。

JKZC-UC系列高低溫探針臺(tái)是一款在非真空條件下實(shí)現(xiàn)低溫環(huán)境的測(cè)試探針臺(tái)。該產(chǎn)品釆用液氮或者空氣壓縮機(jī)制冷 ,自動(dòng)控溫，設(shè)備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏蔽無(wú)線電磁干擾，另外一方面也可以保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結(jié)霜。此設(shè)備對(duì)于一些有溫度需求的測(cè)試，尤其是低溫，運(yùn)用非常廣泛。

JKZC-DSH系列探針臺(tái)是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺(tái)，最大可完成12英寸晶圓的正反面點(diǎn)針測(cè)試。在具備常 規(guī)探針臺(tái)的功能基礎(chǔ)上,可用于晶圓和PCB板的測(cè)試，對(duì)晶圓或者PCB板正面和背面同時(shí)扎針以實(shí)現(xiàn)各種 光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試，或背面點(diǎn)針，正面收集光線等,運(yùn)用十分豐富。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級(jí)功能。

JKZC-DM系列探針臺(tái)是我司一款基于高校教育與實(shí)驗(yàn)室而研發(fā)的基礎(chǔ)型晶圓測(cè)試探針臺(tái)。其結(jié)構(gòu)緊湊，設(shè)計(jì)精密，價(jià)格實(shí)惠，配置靈活，高性價(jià)比。在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗(yàn)室科研過程中得到了廣泛運(yùn)用，配合對(duì)應(yīng)的儀器儀表，用于測(cè)試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號(hào)，1/f噪聲測(cè)試，器件表征測(cè)試，RF射頻等。如 果您的測(cè)試器件pad電極大于50um,此系列探針臺(tái)。